- يتم استخدامه في الطباعة بالحبر، وفي معالجة الأفلام، والطباعة والصباغة على المنسوجات، والبلاستيك والإلكترونيات وغيرها من الصناعات
- نطاق الطول الموجي: 400~700 نانومتر
- طول الموجة: 10 نانومتر
- مصادر ضوء LED المدمجة
مقياس كثافة الطيف الشبكي، SP-CLD505
الوصف
1. هيكل بصري هندسي 45/0، متوافق مع CIE، شروط الاختبار الخاصة بـ MO، M 1، M 2، M 3 المنصوص عليها في معيار ISO 13655، يمكنه قياس كثافة الطباعة المختلفة، ومعدل الطباعة الزائدة ومعلمات الطباعة الأخرى بدقة.
2. قياس دقيق لطيف الانعكاس وكثافة CMYK وقيمة Lab للعينة؛
3. أجهزة إلكترونية عالية التكوين: شاشة TFT ملونة حقيقية مقاس 3.5 بوصة، وشاشة تعمل باللمس بالسعة، وشبكة مقعرة، ومستشعر صور CMOS ثنائي المصفوفة بدقة 256 بكسل، وما إلى ذلك؛
4. مزيج مثالي بين المظهر الجميل وتصميم الهيكل المريح؛
5. فتحات اختيارية: Φ2/4/8 مم، تتكيف مع المزيد من العينات؛
6. مساحة تخزين كبيرة السعة، أكثر من 20000 بيانات اختبار
7. مصادر إضاءة LED مدمجة ذات عمر طويل واستهلاك منخفض للطاقة، بما في ذلك ضوء الأشعة فوق البنفسجية؛
8. وضع الاتصال المزدوج USB/Blue2.1 مفيد على نطاق واسع؛
9. مناسب بشكل خاص لمراقبة العمليات ومراقبة الجودة لمصانع الطباعة؛
10. تتمتع برامج الكمبيوتر بتوسيع قوي للوظائف.
| نموذج | SP-CLD505 |
| هندسة القياس | 45/0 (إضاءة على شكل حلقة 45، زاوية رؤية 0 درجة)؛ ISO 5-4، CIE رقم 15 |
| سمات | مقياس كثافة الطيف عالي الدقة، يستخدم في الطباعة بالحبر، في معالجة الأفلام، والطباعة والصباغة على المنسوجات، والإلكترونيات البلاستيكية وغيرها من الصناعات لقياس اللون ومراقبة الجودة؛ مناسب بشكل خاص لقياس ومراقبة جودة الكثافة البصرية وتكبير النقاط في الطباعة بالحبر؛ قادر على تخصيص فتحة واحدة Φ2mm، Φ4mm، Φ8mm. |
| مصدر الضوء | ضوء LED مدمج، ضوء الأشعة فوق البنفسجية |
| جهاز الفصل الطيفي | شبكة مقعرة |
| كاشف | مستشعر صور CMOS مزدوج المصفوفة مكون من 256 عنصر صورة |
| نطاق الطول الموجي | 400~700 نانومتر |
| درجة الطول الموجي | 10 نانومتر |
| نصف النطاق الترددي | 10 نانومتر |
| شروط القياس | الامتثال لشروط القياس ISO 13655؛ M0 (CIE Light Source A) M1 (CIE Light Source D50) M2 (باستثناء مصدر ضوء الأشعة فوق البنفسجية) M3 (M2+فلتر ضوء مستقطب) |
| معايير الكثافة | حالة ISO A، E، I، T |
| مؤشر الكثافة | قيمة الكثافة، فرق الكثافة، مساحة النقطة، تكبير النقطة، الطباعة الفوقية، خصائص الطباعة، تباين الطباعة، خطأ النغمة ومقياس الرمادي، مسح الكثافة |
| فتحة القياس | فتحة واحدة مخصصة: Φ2 مم، Φ4 مم، Φ8 مم اختيارية |
| مساحات الألوان | مختبر CIE،XYZ،Yxy،LCh،CIE LUV،HunterLAB |
| صيغة اختلاف اللون | ΔE*ab، ΔE*94، ΔE*00، ΔE*uv، ΔE*cmc(2:1)، ΔE*cmc(1:1)، ΔE(هانتر) |
| مؤشر الألوان الآخر | واي فاي (ASTM E313، CIE/ISO، AATCC، هنتر)، يي (ASTM D1925،ASTM 313)، MI (مؤشر التماثل)، التعتيم، |
| زاوية المراقب | 2°/10° |
| المُضيئات | أ، ج، د50، د55، د65، د75، F2(CWF)، F7(DLP)، F11(TL84)، F12(TL83/U30)، F1، F3، F4، F5، F6، F8، F9، F10(TPL5) |
| وقت القياس | حوالي 1.5 ثانية |
| القدرة على التكرار | الكثافة: ضمن 0.01 د |
| قيمة اللون: ضمن ΔE*ab 0.03 (عند قياس لوحة معايرة بيضاء 30 مرة على فترات 5 ثوانٍ بعد معايرة اللون الأبيض) باستثناء M3 | |
| خطأ بين الأجهزة | ضمن ΔE*ab 0.18 (متوسط 12 بلاطة ملونة من سلسلة BCRA II) باستثناء M3 |
| وضع القياس | قياس واحد، قياس متوسط (2-99) |
| الحجم (الطول * العرض * الارتفاع) | 184*77*105 ملم |
| وزن | حوالي 600 جرام |
| مصدر الطاقة | بطارية ليثيوم أيون. 5000 قياس خلال 8 ساعات |
| عمر الإضاءة | 5 سنوات، أكثر من 3 ملايين مرة قياسات |
| عرض | شاشة LCD ملونة TFT مقاس 3.5 بوصة، شاشة تعمل باللمس بالسعة |
| واجهة | يو اس بي، بلوتوث 4.0 |
| ذاكرة البيانات | 20000 قطعة |
| لغة | الصينية المبسطة، الإنجليزية، الصينية التقليدية |
| بيئة العمل | درجة الحرارة: 0~40 درجة مئوية؛ الرطوبة: 0~85% (بدون تكاثف)؛ الارتفاع: أقل من 2000 متر |
| بيئة التخزين | درجة الحرارة: -20~50 درجة مئوية؛ الرطوبة: 0~85% (بدون تكاثف) |
| ملحق قياسي | محول الطاقة، كابل USB، بطارية ليثيوم أيون مدمجة، دليل المستخدم، برنامج (يمكن تنزيله من الموقع الإلكتروني)، لوحة معايرة بيضاء وسوداء، غطاء واقٍ، صندوق فلتر الاستقطاب، لوحة تحديد الموقع |
| ملحق اختياري | طابعة صغيرة |
| ملحوظة: المواصفات قابلة للتغيير دون إشعار. | |
Get Social